集成電路 HAST加速老化試驗箱產品簡介：

HAST老化試驗箱在電子元器件行業中具有重要的應用價值。隨著電子產品的日益普及和更新換代，人們對產品的可靠性和耐久性的要求也越來越高。因此，對電子元器件進行可靠性測試變得尤為重要。HAST老化試驗箱可以模擬產品在高溫高濕環境下的長期使用，幫助企業了解產品的性能和可靠性，并為產品的改進和優化提供依據。HAST老化試驗箱不僅在電子元器件行業中應用廣泛，在工業產品領域也得到了廣泛應用。例如，汽車行業對汽車電子控制器的可靠性要求很高，經常會使用HAST老化試驗箱進行可靠性測試。此外，光電行業、通信行業等也經常使用HAST老化試驗箱進行產品可靠性評估。由于HAST老化試驗箱能夠模擬真實環境中的高溫高濕條件，并通過加速老化過程進行可靠性測試，因此在產品研發和制造中有著重要的作用.

高壓加速老化試驗箱采用最新優化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結束后壓力溫度的急變，保證試驗結果的正確。

集成電路 HAST加速老化試驗箱試驗標準：

GB/T2423.40-2013電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱

JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）